image  
GIS Consult GmbH - Logo
image  
image
image
GIS Consult GmbH - Banner
GIS Consult GmbH - Slogan
image
image image image image image image
    image
image
image imageUnternehmen Unternehmen image
image imageBranchen Branchen image
image imageDienstleistungen Menü schließen image
  imageBeratung   image
  imageEntwicklung   image
  imageErfassung   image
  imageGeoportale   image
  imageSchulungen Menü schließen image
    imageKursübersicht Kursübersicht image
    imageNächste Schulungen   image
  imageSupport   image
image
image imageProdukte Produkte image
image imageDaten Daten image
image imageDemo-Portal Demo-Portal image
      image
image
image imageKundenbereich Kundenbereich image
      image
image
image imageSitemap Sitemap image
image imageService Service image
image imageDatenschutz Datenschutz image
image imageImpressum Impressum image

wird geladen...

image
image
FS Kataster VE inkl. KEDBS-Import
mehr
zurück
image
Kurs-Nummer: GC-SW-KAT-3
Kursinhalt als Download PDF-Datei Download 
image
Seminarübersicht:
Das kombinierte Fachschalen-Seminar vermittelt den Einstieg in die Verwaltung von Geo-Basisdaten als Grundlage für Anwender aus den Bereichen Ver- und Entsorgung, Telekommunikation und kommunaler Verwaltung.

Schulungstermine bei GIS Consult:
Die Schulungstermine können individuell abgestimmt, oder aus unserem LinkOnline-Angebot gebucht werden.

Zielgruppe:
Anwender der Fachschalen Kataster VE bei Kommunen und Versorgungsunternehmen.

Voraussetzungen:
SW Grundlagen (GC-SW-GL-1)

Themen:
Optimierter Objektabbildungskatalog (OBAK) der Fachschale Kataster VE
Der ALK-Editor mit den Funktionstasten Folie, Objektschlüssel und Objekttyp
Erfassung und Modifizierung von ALK-Objekten
Spezielle ALK-Editoren mit Sonderfunktionalität
ALK-Flurstück
ALK-Gebäude
ALK-Straße
ALK-Punkt
ALK-Kreis
Besonderheiten bei der Darstellung von Gebäuden
Besonderheiten beim Erzeugen von Katasterobjekten
Setzen der Trigger-, Darstellungs- und Erfassungsparameter über das ALK-Parameter-Menü
Zusätzliche Basisfunktionalität Texte und Positionierung
Postprozesse: Automatische Objektbildung und Integritätsprüfung
Plotten mit dem Standardplot-Layout für Katasterkarten

Hinweise:
Das Seminar basiert auf der Smallworld Core Spatial Technology-Version 3.2.1 oder 4. Beginn erster Tag 10.00 Uhr, durchschnittlich 7 Std. je Tag.

Dauer:
2 Tage

Preis:
Preis: 900,- € pro Teilnehmer

Bitte beachten Sie auch die LinkTeilnahmebedingungen PDF-Datei
image
image